频率范围:100kHz~43.5GHz

■ 测量端?:提供2 ports、4 ports配置
■ ***的动态范围:>125dB@43.5GHz(typ.)
■ ***迹线噪声:2mdB rms(typ.)@IFBW=70kHz
■ 输出功率范围:-55dBm~+10dBm
■ 超高温度稳定性:＜0.01dB/°C

VNA4435?量?络分析仪频率范围为100kHz~43.5GHz，可覆盖C/X/Ku/K/Ka波段微波产品的测试需求。可?泛 应?于微波通信、卫星通信、航天军?等领域的研发、?产测试。搭配12.1?触控屏以及实体功能按键，?便客?各种调 试操作。

VNA4435具备完备的??测试分析功能以及校准算法，?持端?匹配、AFR等多种夹具仿真算法，?持时域分析、 眼图测试，?持通过外置扩频模块实现更?频的毫?波频段扩展，可适配市场上?部分机械及电?校准件，可以提供客 制化的测试软件，满?客?灵活多样的测试需求及使??式。

关键性能

■  频率范围:100kHz~43.5GHz
■ 测量端?:提供2 ports、4 ports配置，便于客户灵活选择                                      
■ ***的动态范围:>125dB@43.5GHz(typ.)
■ ***迹线噪声:2mdB rms(typ.)@IFBW=70kHz
■ 输出功率范围:-55dBm~+10dBm
■ 超高温度稳定性:＜0.01dB/°C 

■ ?持TDR(时域阻抗测试）、增强TDR (Eye Diagram/Rise time/Skew...)功能               
■ 支持主流的机械和电子校准件
■ 完备的校准算法（包括SOLT\SOLR\TRL\响应校准等）
■ 支持自动端口延伸、夹具仿真、AFR（Automatic Fixture Removal)等功能
■ 选件支持外接扩频模块，实现40GHz~110GHz以及更高频段的测试
■ 兼容主流产品的VISA和SCPI等控制接口，兼容客户现有的测试软件